CMX3-DL彩色屏多层厚度测厚仪参数

CMX2/3-DL多层厚度测厚仪

CMX2/3-DL测厚仪不仅有MX2-DL的所有功能，而且还有同时测量金属基体和表面非金属涂层厚度的能力。

多种测量方式

显示模式（数字式显示、B扫描显示、A扫描显示）

增益可调节：超低、低、中、高、超高

增益值可到110dB

自动增益控制（AGC）

时间增益校正（TDG）

探头自动识别，自动调零和温度补偿

**值、最小值显示

可存储64个用户参数设置

高速扫查（50次/秒）

高达250HZ的脉冲重复频率

B扫描显示用于显示被测材料的截面形状

A扫描波形显示和RF显示

差值测量模式

高速扫查功能可用于快速找到壁厚的最小值

上/下限声光报警功能

数据存贮：内置4GB SD存储卡

可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告

CMX2/3-DL

外形尺寸

63.5x165x31.5mm

重量

380g（包括电池） 全金属外壳

CMX2-DL（黑白屏）

分辨率: 240X160像素 显示面积：62X45.7mm

CMX3-DL（彩色屏）

分辨率: 320X240像素 显示面积：43.2X57.6mm

显示模式

全波、正/负半波、数字式或分屏组合式显示（波形+数字）、A扫描横屏/竖屏可选（仅CMX3-DL)

工作温度

-10～60℃

测量范围

界面波-底波(P-E)方式：  0.63－1219.2mm

带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－1219.2mm

多层测量(PECT)方式：  0.63－1219.2mm（基体） 0.01－2.54mm（表面涂层）

穿透涂层测量(E-E)模式：  2.54¬—152.4mm（因涂层的不同会有所变化）

三次波穿透涂层测量(E-EV)模式：  2.54¬—102mm（因涂层的不同会有所变化）

仅测量涂层(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂层的不同会有所变化）

数据通信接口

Type-C 接口可和PC电脑连接或者给主机供电

存储格式

表格式（字母、数字编号）或者顺序式（自动编号）

存储能力

4GB内部SD卡存储

屏幕抓取

可存为.tif格式的文件

自定义参数设置

可存储64个参数设置，内置的参数设置用户也可编辑

电池

3节5号干电池供电或者通过USB接口供电

A扫描刷新率

25Hz（黑白屏）/120Hz（彩色屏）

晶振

采用8位100MHz单脉冲超低功耗数字转化器的TCXO振荡器

测量门

测量门的起始位置和宽度全屏可调；测量门的高度5%—95%可调（步进值1%）；测量门可以正负触发声、光报警

测量单位

公制 (mm)/英制(in)

声速

309.88～18542m/s

显示分辨率

0.01mm

校准模式

一点/两点校准

探头类型

1MHz-20MHz双晶/单晶探头（接触式、延迟块、笔式）

认证标准

满足IP65防护标准，符合NIST & MIL-STD-45662A