MSEB2S SEB2S GE欧规双晶保护膜直探头双晶直探头用于探测棒材、坯块、轴、杆等中心缺陷，经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中关键部位小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适用于平行物体表面的缺陷定位（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）

SEB4KF8 SEB10KF3 SEB10KF3-EN GE欧规双晶直探头 双晶直探头用于探测棒材、坯块、轴、杆等中心缺陷，经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中关键部位小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适用于平行物体表面的缺陷定位（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）

SEB2 SEB4KF8-EN SEB5KF3 GE欧规双晶直探头双晶直探头用于探测棒材、坯块、轴、杆等中心缺陷，经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中关键部位小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适用于平行物体表面的缺陷定位（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）

SEB2KF5 SEB4KF8 SEB4-EN GE欧规双晶直探头双晶直探头用于探测棒材、坯块、轴、杆等中心缺陷，经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中关键部位小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适用于平行物体表面的缺陷定位（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）

MSEB4-EN MSEB4-0° MSEB5欧规双晶直探头 双晶直探头用于探测棒材、坯块、轴、杆等中心缺陷，经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中关键部位小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适用于平行物体表面的缺陷定位（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）

MSEB4 MSEB4-EN MSEB4-EN-0°欧规双晶直探头 SEB2 SEB 2-0° SEB 2-EN-0°双晶直探头用于探测棒材、坯块、轴、杆等中心缺陷，经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中关键部位小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适用于平行物体表面的缺陷定位（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）