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leeb251 leeb251一体式涂层测厚仪产品概述：
leeb251一体式涂层测厚仪
采用导电测量原理，可无损地检测导电金属基体上非导电覆层 (如钴、镍、铁上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等) 的厚度。
全中文菜单；两种测量方式；两种工作方式；数据删除功能；测值统计功能：平均值、大、小值、测试次数；电源欠压指示；手动和自动两种关机方式；一体化设计，体积更小巧。
京海兴乐科技（北京）有限公司提供探伤仪(奥林巴斯/汕超/美国GE/达高特/中科汉威/友联/声纳/)配件：相控阵探头，直探头，斜探头，连接线，探头线，保护膜，试块，耦合剂，双晶探头，表面波探头，小径管探头，小角度探头，水浸探头，非金属探头，可拆式探头，可变角度探头，窄脉冲探头、测厚探头、高温耦合剂及超声探伤-UT；磁粉探伤-MT；渗透检测(PT)、射线探伤-RT、涡流探伤-ET等产品。
【技术参数】
产品型号 | Leeb251 | ||||
测头类型 | 电涡流 |
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| 一点校准±（ | |
二点校准±[（ | 小曲率半径5、凹 | ||||
小面积直径Φ10 | |||||
基本临界厚度0.3 | |||||
工作环境 |
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| 1.5V四节 |
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重量120g | 主机、标准试片、基体、<span "="">AAA型碱性电池 | ||||
