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Phase II涂层测厚仪PTG-4200
Phase II涂层测厚仪PTG-4200
发布日期:2019-06-19
型    号:PTG-4200
所属分类:涂层测厚仪
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Phase II涂层测厚仪PTG-4200可通过电磁感应及电涡流两种不同测量原理进行涂层测厚。
无损测量,精确可靠。
此外,这种*型的涂层测厚仪采用一体式内置探头,可以测量磁性金属机体上的非磁性涂层厚度或非磁性金属基体上的非导电涂层厚度。
PTG-4200可应用于多工业领域测量,包括汽车业、制造业、通用机械工程、商检等。

Phase II涂层测厚仪PTG-4200产品概述:

Phase II涂层测厚仪PTG-4200可通过电磁感应及电涡流两种不同测量原理进行涂层测厚。 
无损测量,精确可靠。
此外,这种*型的涂层测厚仪采用一体式内置探头,可以测量磁性金属机体上的非磁性涂层厚度或非磁性金属基体上的非导电涂层厚度。
PTG-4200可应用于多工业领域测量,包括汽车业、制造业、通用机械工程、商检等。

涂层测厚仪 
型号; PTG-4200

涂层厚度测量带有彩色可翻转屏幕显示!

 

Phase II涂层测厚仪PTG-4200可通过电磁感应及电涡流两种不同测量原理进行涂层测厚。 
无损测量,精确可靠。
此外,这种*型的涂层测厚仪采用一体式内置探头,可以测量磁性金属机体上的非磁性涂层厚度或非磁性金属基体上的非导电涂层厚度。
PTG-4200可应用于多工业领域测量,包括汽车业、制造业、通用机械工程、商检等。

 

涂层测厚仪PTG-4200主要技术参数:

  • 测量范围: 0-1,250 µm/0-50 mils
  • 分辨率: 1µm / 0.1mils
  • 示值精度: +/- 3% + 2µm (+/-3%+0.1 mil)
  • 屏幕显示: 点阵彩色可调LCD显示屏/180度可翻转显示
  • 数值统计: 大/小值,平均值
  • 小测量面积: 0.2” x 0.2” (5mm x 5mm)
  • 小曲率半径: (凸) 0.12” (3mm)、(凹): 1.2” (30mm)
  • 小基体厚度: (凸) 铁基体: 20 mils (0.5mm)
  • 非铁基体: 2 mils (50 µ m)
  • 被测工件表面高温度: 150℃(长接触时间2秒)
  • 电源:两节AAA电池
  • 尺寸: 119 x 45 x 27mm
  • 重量: 90g (不带电池)

 京海兴乐科技(北京)有限公司提供仪器维修,产品计量,技术培训,产品配件,仪器说明书提供的无损检测仪器设备包括:超声检测(UT);射线检测(RT);渗透检测(PT);磁粉检测(MT);涡流检测(ET);超声波相控阵、超声波测厚仪、超声导波、超声TOFD探伤仪、超声波探头、涡流探伤仪、涡流探头、涡流阵列、磁粉探伤机、X、γ辐射检测仪。代理以下品牌:汕超、美国GE(德国KK)、奥林巴斯(Olympus NDT)、美国磁通(Magnaflux)、DAKOTA等。

PTG-4200配置有两个标准基体(钢、铝)、四个校准试片、手提箱、电池及操作手册。

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