SEB4 SEB4-EN SEB4-0°双晶直探头用于探测棒材、坯块、轴、杆等中心缺陷，经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中关键部位小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适用于平行物体表面的缺陷定位（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）特性

SEB2 SEB 2-0° SEB 2-EN-0°双晶直探头用于探测棒材、坯块、轴、杆等中心缺陷，经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中关键部位小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适用于平行物体表面的缺陷定位（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）

SEB1 SEB1-EN SEB2 SEB2-E SEB..用于探测棒材、坯块、轴、杆等中心缺陷，经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中关键部位小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适用于平行物体表面的缺陷定位（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）。

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