功能介绍
1、7寸触摸屏,专业、快捷的 UI 和 UE;
2、支持850nm、1300nm多模测试;
3、支持**46dB动态,**0.5m盲区;
4、优异的智能事件分析能力,支持光回损测量、4点法损耗计算、跨段功能;
5、齐全的用户数据接口,支持LAN、USB、SD等;
6、可支持VFL、OPM、光纤显微镜、稳定光源、线性视图、远程测量等功能测试;
7、AE3100 PON 系列具有独特的 PON 网络测试功能,可穿透光分路器测试 PON 网络
技术指标
技术规格 | AE3100E |
波长(nm) | 1310/1550 |
动态范围(dB) | 43/41 |
脉冲宽度(ns) | 3-20000 |
事件盲区(m) | ≤0.8 |
衰减盲区(m) | ≤3 |
距离范围(km) | 0.1-400km |
采样分辨率(m) | 0.04~12.8 |
采样点数 | 256000 |
损耗门限(dB) | 0.001 |
显示 | 7in (178mm) 800×480点阵 TFT 触摸屏 |
接口 | USB2.0 ×2/RJ45×1/ LAN/10M/100M/Micro SD×1, 支持** 64GB |
存储 | 支持80000条OTDR曲线 |
电池 | 支持**10小时工作时间 |
尺寸/重量 | 206 x 171 x 75mm/约1.5kg(不含包装) |